【佳學(xué)基因檢測(cè)】綜合征性智力低下，X連鎖33型分子診斷怎么做？

分子診斷導(dǎo)讀：

綜合征性智力低下，X連鎖33型是一種由基因序列異常引起的疾病。診斷和治療需要采用分子診斷技術(shù)。佳學(xué)基因通過(guò)基因解碼建立這一疾病的臨床表征與基因序列變化的關(guān)系，可以提供致力找到病因、阻斷遺傳的基因解碼和出于風(fēng)險(xiǎn)考慮的基因檢測(cè)。

綜合征性智力低下，X連鎖33型疾病介紹：

X連鎖綜合征智力障礙-33是一種X連鎖的隱性神經(jīng)發(fā)育障礙，其特征是精神運(yùn)動(dòng)發(fā)育遲緩，智力障礙和特征性面部特征（由O“Rawe等人，2015年總結(jié)）。該病臨床表征有：高腭；小頭畸形；長(zhǎng)臉；尖下巴；眶上脊突出；長(zhǎng)人中；低位耳；慢性化膿性中耳炎；招風(fēng)耳；鼻孔前翻；斜視；斜視；下斜瞼裂；骶骨窩；智力殘疾。

綜合征性智力低下，X連鎖33型基因解碼

根據(jù)《人的基因序列變化與人體疾病表征》，過(guò)去有部分機(jī)構(gòu)和醫(yī)務(wù)人員認(rèn)為綜合征性智力低下，X連鎖33型不是遺傳性疾病，甚至有人認(rèn)為該病不是由基因引起的，綜合征性智力低下，X連鎖33型發(fā)生的內(nèi)在基因原因被忽視。佳學(xué)基因通過(guò)基因解碼找到并定位了導(dǎo)致這一疾病發(fā)生的原因，提出了綜合征性智力低下，X連鎖33型的遺傳風(fēng)險(xiǎn)，并建議通過(guò)基因檢測(cè)明確和排除風(fēng)險(xiǎn)，讓后代、二胎不再患有綜合征性智力低下，X連鎖33型，實(shí)現(xiàn)綜合征性智力低下，X連鎖33型遺傳阻斷的目的。