【佳學基因檢測】一個或多個上側(cè)副切牙發(fā)育不全長期困擾基因檢測

基因檢測導讀：

一個或多個上側(cè)副切牙發(fā)育不全基因檢測試劑: 來自湖南省益陽市沅江市新灣鎮(zhèn)的孟建安（化名）在被醫(yī)生診斷為一個或多個上側(cè)副切牙發(fā)育不全。聯(lián)系《Comparative Exercise Physiology》,基因突變引起的一個或多個上側(cè)副切牙發(fā)育不全會遺傳。

本文關(guān)鍵詞

上側(cè),副切牙,發(fā)育不全,基因檢測

人體疾病表征數(shù)據(jù)庫查詢

出現(xiàn)一個或多個上側(cè)副切牙發(fā)育不全醫(yī)師會懷疑以下疾病類型：

怎樣才能診斷正確？

表型數(shù)據(jù)庫代碼是：HP:0011050

表型描述

Agenesis of one or more upper lateral secondary incisor.